良 瑞AOI研发部的龙安靖博士参加2008年三月17日至19日在上海举行的第11届世界电子电路大会ECWC11，并在会上演讲与麻省理工学院博士Pam Lipson小姐(良瑞AOI顾问)合作的论文“自动光学检测技术的进步降低机器成本”。