良 瑞AOI研發部的龍安靖博士參加2008年三月17日至19日在上海舉行的第11屆世界電子電路大會ECWC11，並在會上演講與麻省理工學院博士Pam Lipson小姐(良瑞AOI顧問)合作的論文“自動光學檢測技術的進步降低機器成本”。