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內容
2007.2.15
歡迎蒞臨參觀Nepcon 韓國展 (2007年4月04日-06日)
2007.2.8
歡迎蒞臨參觀美國Apex展(2007年2月20日-22日)
2006.10.23
通過96年度國防工業訓儲員額申請資格及計劃審查
2006.10.9
歡迎蒞臨參觀新加坡環球電子展 (2006年10月10日-10月13日)
2006.8.28
歡迎蒞臨參觀Nepcon 深圳展 (2006年08月29日-09月01日)
2006.7.1
A Test Strategy for Pre-Reflow AOI
2006.6.27
歡迎蒞臨參觀 台北 SMT/PCB/SEMI/FPD (2006年06月28日-07月01日)
2006.6.27
Machine Vision-Based Inspection for Electronic Assembly
2006.6.20
良瑞總經理蔡崇元先生擔任”自動光學檢測設備聯盟(AOIEA)”的執行委員一職
2006.6.20
WKK – 新的AOI 代理商
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公司簡介
願景展望
營運模式
檢測治具與測試程式設計
探針
實板變形量測
DFT 可測試性分析軟體
自動化LED檢查與測試
觸控面板檢查與測試
在線燒錄測試
電池(EV)自動測試系統
首件檢查
SMT檢查
DIP檢查
選擇性波峰焊光學檢查機
鑽孔與治具自動光學檢查
外觀品質檢查
客製化電氣測試光學檢查
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