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提供文字及圖形辨識功能,提升錯件、極性測試的準確度。專利設計之光源系統,可提供256種照明模式,對任何底色之待測板均可精準量測。 |
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Contact Probe
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具備精密的鐳射量測板彎補償設計,可精準量測。 提供SPC統計分析功能,讓製程管理能力更加完美。 |
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RF Probe
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可建立多種代用料資料庫, 配合OCV(影像檢視系統)使用代用料時,
不用再修改程式。 |
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BGA Socket
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具備精密的鐳射量測板彎補償設計,可精準量測。 提供SPC統計分析功能,讓製程管理能力更加完美。 |
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RF Probe
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可建立多種代用料資料庫, 配合OCV(影像檢視系統)使用代用料時, 不用再修改程式。 |
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Contact Probe
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具備精密的鐳射量測板彎補償設計,可精準量測。 提供SPC統計分析功能,讓製程管理能力更加完美。 |
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