檢測治具與測試程式設計
ICT 治具
MDA 治具
FCT 治具
電池(EV)治具
IC半導體測試座
壓床 (PDU)
LA治具配套 / 零配件
LA探針
測試程式設計
探針
實板變形量測
DFT 可測試性分析軟體
自動化LED檢查與測試
觸控面板檢查與測試
在線燒錄測試
電池(EV)自動測試系統
首件檢查
SMT檢查
DIP檢查
選擇性波峰焊光學檢查機
鑽孔與治具自動光學檢查
外觀品質檢查
客製化電氣測試光學檢查

首頁>產品資訊>檢測治具與測試程式設計>客製化服務

 




  • 最大支援測試點數:2,048點(可擴展成4,096點)
  • 測試針頭種類: Ultra Pin
  • 測試針頭方向性:全雙向(驅動/感應)
  • 測試機台佔地面積: 43.5"W X 35"H




  • 此網站網頁設計由網繹數位科技製作 http://www.eki.com.tw